航天推进剂技术 长贮推进剂贮箱腐蚀的热波检测与剩余寿命预测
作者: 金国锋,杨正伟,田干
出版社: 化学工业出版社
出版日期: 2026.01
ISBN-13: 9787122491756
ISBN-10: 7122491757
页数: 156
原书定价: 98.00
开本: 无
丛书名: 航天推进剂技术
主题词: 无
中图分类号: V421.3
中图分类名: 航空、航天›航天（宇宙航行）›火箭、航天器构造（总体）›火箭的构造和设计›舱段
《长贮推进剂贮箱腐蚀的热波检测与剩余寿命预测》围绕长贮液体推进剂贮箱的腐蚀问题展开，重点介绍贮箱材料腐蚀的产生及其演化规律、贮箱腐蚀损伤的热波检测理论基础及应用可行性分析、贮箱腐蚀损伤的热波检测定量识别方法与试验技术，以及基于热波检测的贮箱…目录仅对会员开放。