晶体学 粉末X射线衍射与透射电子显微学基础
作者: 董志力,|潘昆明
出版社: 冶金工业出版社
出版日期: 2024.06
ISBN-13: 9787502499723
ISBN-10: 7502499725
页数: 220
原书定价: 80.00
开本: 无
丛书名: 无
主题词: X射线晶体学
中图分类号: O72;O766
中图分类名: 数理科学和化学›晶体学›X射线晶体学
结构与性能之间的关系是材料科学与工程领域的关键话题之一。要理解为什么一种材料能够展现出某种性能，首先是分析其晶体结构，揭示其结构特征。本书为读者深入解释了如何借助X射线衍射和透射电子显微镜进行晶体结构分析。本书主要内容如下：晶体学基础；材料…目录仅对会员开放。