晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例
作者: 马秀良
出版社: 高等教育出版社
出版日期: 2024.01
ISBN-13: 9787040610963
ISBN-10: 7040610965
页数: 638
原书定价: 149.00
开本: 无
丛书名: 材料科学与工程著作系列
主题词: 晶体结构·电子显微镜分析·案例
中图分类号: O766
中图分类名: 数理科学和化学›晶体学›晶体结构›观察、分析晶体结构的实验方法
本书涵盖作者自20世纪80年代末师从郭可信先生起至近年带领研究团队在有关电子衍射方面所积累的主要实验案例，旨在以“案例”的形式梳理电子显微学及晶体学的基础知识，展示如何通过对材料基础科学问题的再认识从而对经典问题产生新理解，分享发现的乐趣，…目录仅对会员开放。