航天电子系统最坏情况电路分析技术
作者: 任立明,时晓东,张云中,曹鹏
出版社: 宇航出版社
出版日期: 2019.12
ISBN-13: 9787515917429
ISBN-10: 7515917423
页数: 147
原书定价: 58.00
开本: 16开
丛书名: 无
主题词: 航天器可靠性·电路分析·研究
中图分类号: V417
中图分类名: 航空、航天›航天（宇宙航行）›基础理论及试验›飞行试验
本书总结了国内外相关研究与应用情况，试图以工程实用性、有效性为出发点，比较系统、全面地介绍最坏情况电路分析技术的原理、方法、流程、工具、项目管理以及工程应用案例，其目的是为读者开展最坏情况电路分析提供一本实用指南。全书共10章。第1章概述了…目录仅对会员开放。