材料分析测试技术 材料X射线衍射与电子显微分析
作者: 周玉，武高辉编著
出版社: 哈尔滨工程大学出版社
出版日期: 1998.08
ISBN-13: 9787560313382
ISBN-10: 7560313388
页数: 283
原书定价: 无
开本: 26cm
丛书名: 材料科学与工程丛书
主题词: X射线衍射分析·金属材料·电子显微镜分析·高等学校
中图分类号: TG115.23:TG115.21
中图分类名: 工业技术›金属学与金属工艺›金属学与热处理›金属学（物理冶金）›金属的分析试验（金属材料试验）›物理试验法›射线衍射分析
本书介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组识结构的原理、设备及试验方法。内容包括：X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及X射线法射仪、物相分析、宏观应力测定、透射电镜结构与原理等其他内容。目录仅对会员开放。