利用粒线体预测和鉴定杂种优势

作者: 上海科学技术情报研究所

出版社: 上海科学技术情报研究所

出版日期: 1973

ISBN: 无

页数: 10

原书定价: 0.02

开本: 无

丛书名: 无

主题词: 杂种·优势·鉴定

中图分类号: Q32

中图分类名: 生物科学›遗传学›杂交与杂种